Kính hiển vi quét đầu dò (SPM) và đặc biệt là kính hiển vi nguyên tử lực (AFM) cho phép chụp ảnh tính chất vật lý cỡ nano, trong khi phổ dao động, đặc biệt là phổ Raman cho ảnh hóa học bị hạn chế độ phân giải.
Horiba và AIST-NT chứng minh việc Ảnh AFM-Raman có thể được thực hiện thường xuyên và đồng thời đã đưa kỹ thuật TERS đến gần các nhà nghiên cứu.
Hội thảo này, chúng ta thảo luận về:
- Sự tích hợp của SPM và Phổ kế quang học
- Ảnh siêu phổ, cực nhanh và đồng thời SPM cho tương quan đặc tính hình thái học và hóa học cực nhanh và đồng thời lựa chọn các hạt cỡ nano để phân tích riêng lẻ, cách ly và tổng hợp trực tiếp.
Mục tiêu chính:
- Hiểu được các chức năng chính để SPM và Phổ kế quang học có thể hoạt động đồng thời thông suốt.
- Hiểu được các yêu cầu khác nhau của việc lấy ảnh bằng phổ Raman tăng cường trên mũi nhọn (TERS) so với các phép đo cùng vị trí.
- Hiểu được các giải pháp ngày nay giúp tiết kiệm thời gian, giảm thất bại và cho phép bạn tự tin tiếp cận công nghệ lấy ảnh ít nhiễu xạ.
Đối tượng tham dự:
- Các nhà nghiên cứu làm việc với phổ Raman về vật liệu Nano như ống nano cacbon, graphen, MoS2, các loại màng mỏng, thiết bị bán dẫn và thiết kế hạt nano hoặc lớp phủ.
- Các Trưởng phòng thí nghiệm và quản lý thiết bị đang tìm kiếm các thiết bị lấy ảnh đa phương thức kết hợp nhiều công nghệ trên cùng một thiết bị.
Để biết thêm thông tin, xin mời truy cập vào đây.
