Đối với việc phân tích màng mỏng không phá hủy trong nghiên cứu vật liệu, thiết bị giúp người sử dụng phân tích độ dày màng, các hằng số quang học và nhiều tính chất vật liệu khác của các lớp nano và micro.
- SE-09:Characterization of Aluminum Anodized Surfaces using the MM-16 Spectroscopic Ellipsometer
- SE-11:Standard applications by Spectroscopic Ellipsometry
- SE-14:Characterization of barrier layers by Spectroscopic Ellipsometry for packaging applications
- SE-19:Characterization of GeSbTe films by Spectroscopic Ellipsometry for Rewritable Optical Discs
- SE-29:Ellipsometric characterization of doped and undoped crystalline diamond structures
SE-32:Characterization of SiO2 on glass by Spectroscopic Ellipsometry
For a list of all available application notes please click here.
