Phổ phân cực Ellip là công cụ hoàn hảo để phân tích các lớp mạ quang học bằng cách đưa ra các kết quả chính xác về độ dày màng và các hằng số quang học. Thiết bị cũng cho phép phân tích giao diện, độ nhám, độ dốc và tính dị hướng.
- SE-04:Characterization of Chalcogenide Glasses
- Characterization of ZrO2SE-06:Thin Films on Glass Substrates
- Characterization of TiO2SE-07:Thin Films and Multilayer Antireflective Coatings
- SE-11:Determination of the Refractive Index of Y2O3 on Glass and Pre-evaporated Substrates by Spectroscopic Ellipsometry
- SE-12:Spectroscopic Ellipsometry study of ZnO thin films
- SE-17:Characterization of Electrochromic Devices by Spectroscopic Ellipsometry
