Characterization of Semiconductors with Photoluminescence Measurement system
Combined Spectroscopic Analyses of Semiconductor Material Structures at the Microscopic Level
Raman and PL Characterization of GaN
PL/PLE Macro Illuminator
Macro scanning PL/PLE system
Photoluminescence and Photoreflectance
Luminescence of Rare Earth Doped Glasses
High-Resolution Low-Temperature PL of Semiconductors
Photoluminescence of Semiconductors
Photoluminescence of InGaAs/GaAs Quantum Dots
QUANG HỌC QUANG PHỔ
Photoluminescence
- 2024 Masao Horiba Awards
- Máy quang phổ Raman LabRAM Odyssey thay thế hoàn toàn LabRAM HR Evolution
- Ra mắt Kính hiển vi phân tích tia X, model XGT-9000 Pro và XGT-9000 Expert.
- HORIBA đã kỷ niệm 70 năm thành lập.
- HORIBA Scientific công bố tiêu chuẩn ASTM mới phát triển bởi Ủy ban nước của ASTM
- HORIBA và các giải pháp phân tích vi nhựa
- Kết hợp kính hiển vi Raman với kính hiển vi siêu phổ tăng cường trường tối hạt nano.
- Tạp chí thông tin kỹ thuật "Readout" số 55 của HORIBA được phát hành
- Đăng ký để nhận Video của HORIBA về Công nghệ và Ứng dụng
- Webinar “Phát triển sự nghiệp hiệu quả thông qua các mối quan hệ và mạng lưới cố vấn”