Phổ phân cực ellip được sử dụng rộng rãi để phân tích quang điện của màng mỏng. Các đặc tính cần quan tâm là độ dày màng, chỉ số khúc xạ, hấp thụ, bandgap và tính tinh thể silicon.

Application Notes

  • SE-33:Spectroscopic Ellipsometry for CIGS (CuIn1-x GaxSe2 ) thin films characterization
  • SE-31:Characterization of silicon nanoparticles (Si-nps) embedded in a silicon-nitride matrix by spectroscopic ellipsometry
  • SE-30:Optical characterization of ITO films prepared in different atmospheres using Spectroscopic Ellipsometry
  • SE-25:P3HT:PCBM Bulk Heterojunction Solar Cells Characterization by Spectroscopic Ellipsometry
  • SE-01:Thin Film Photovoltaics by Spectroscopic Ellipsometry
  • SE-20:Characterization of Photovoltaic Devices by Spectroscopic Ellipsometry