AUTO SE
  • Hoàn toàn tự động và tích hợp; thao tác đơn giản chỉ bằng nút bấm.
  • Mô phỏng dựa trên tinh thể lỏng; không cần dịch chuyển các linh kiện quang học.
  • Thu nhận dữ liệu phổ nhanh do đầu đo CCD .
  • Rất nhiều vi điểm, kích thước xuống 25 μm và hệ thống quan sát được cấp bằng sáng chế
  • Góc tới cố định tại 70o
  • Dải phổ cố định từ 450-1000 nm
  • Dải phổ thay đổi từ 190nm ~2100 nm
  • Thay đổi tín hiệu cho đơn lớp dày 10 A tại góc Brewster

 

Vui lòng click vào đây để có thêm thông tin về sản phẩm

Nhà sản xuất: HORIBA Scientific

  • Dải phổ: 440-1000 nm
  • Kích thước điểm: lựa chọn tự động 500x500 µm; 250x500 µm; 250x250 µm; 70x250 µm; 100x100 µm; 50x60 µm; 25x60 µm
  • Đầu thu CCD – Phân giải: 2nm
  • Bệ mẫu: ngàm chân không, chiều cao Z 40 mm
  • Quan sát mẫu: CCD camera - Vùng quan sát: 1.33x1 mm – Độ phân giải: 10µm
  • Giác kế: cố định tại 70° - có thể cài đặt tại góc 66° và 61.5°
  • Thời gian đo: <2s, thông thường 5s
  • Độ chính xác:  NIST 100nm d ± 4Å, n(632.8nm) ± 0.002
  • Khả năng lặp lại:  NIST 15nm ± 0.2 Å

Tags: phân tích chiều dày màng, Thin Film Measurement

ellip

CÔNG TY TNHH HORIBA VIỆT NAM

Địa chỉ: P.6, Tầng 10, CMC Tower, Phố Duy Tân, Phường Dịch Vọng Hậu, Quận Cầu Giấy, TP Hà Nội

Tel/Fax: 024 37958552/53

Email: support.vn@horiba.com