HuynhquangRaman bannerICPSPRiphantichhatXRF banner

GD-OES kết hợp phóng điện phát quang từ nguồn tần số vô tuyến (RF) với máy quang phổ phát xạ. Các nguyên tử bề mặt của mẫu được phún xạ và ăn mòn bởi các ion Ar, từng lớp một. Các nguyên tử thoát ra được bị kích thích bởi các va chạm trong plasma và phát ra ánh sáng. Ánh sáng phát xạ này sẽ được phát hiện bởi HDD thông qua máy đa sắc (HDD: Đầu đo dải động học cao).

 

GD-OES là công cụ lý tưởng cho phân tích màng mỏng, chất bán dẫn, quá trình xử lý bề mặt, nghiên cứu oxy hóa - ăn mòn, mạ PVD/CVD, hợp kim-kim loại, thép mạ, sành sứ - thủy tinh...

 

 

GD-Profiler 2 ™ phân tích nhanh, đồng thời của tất cả các nguyên tố, gồm khí nitơ, oxy, hydro và clo. Đây là công cụ lý tưởng để phân tích đặc tính màng mỏng (thin film characterization) và quá trình nghiên cứu.

GD-Profiler HR™ cho độ phân giải và số lượng nguyên tố được phân tích tối ưu, ngay cả đối với những ma trận phức tạp nhất.

HORIBA Scientific cung cấp các phụ kiện cho mẫu và ứng dụng khác nhau:

ellip
GD day

CÔNG TY TNHH HORIBA VIỆT NAM

Địa chỉ: P.6, Tầng 10, CMC Tower, Phố Duy Tân, Phường Dịch Vọng Hậu, Quận Cầu Giấy, TP Hà Nội

Tel/Fax: 04 37958552/53

Email: support.vn@horiba.com