Scientific1
Scientific 2
Scientific3
MÁY QUANG PHỔ ICP-OES
MÁY QUANG PHỔ ICP-OES

ICP-OES là công nghệ phân tích được sử dụng cho việc phát hiện vết nguyên tố. Mẫu được chuyển hóa thành dạng sương mù và chuyển tới plasma Argon. Sau đó bị phân hủy, nguyên tử và ion hóa và bị kích thích. Cường độ ánh sáng phát ra khi nguyên tử hoặc ion trở về trạng thái năng lượng thấp hơn được ghi nhận. Mỗi nguyên tử phát ra tại bước sóng đặc trưng và các vạch đặc trưng này được sử dụng để phân tích định lượng và định tính.

 

Chủ yếu được sử dụng trong các ngành công nghiệp cho phân tích định lượng và định tính các nguyên tố:

  • Kim loại (thép, kim loại đen và kim loại mầu)
  • Sinh học, y tế, thực phẩm
  • Môi trường (nước máy, nước môi trường, đất, bụi không khí)
  • Khoáng sản địa chất (nguyên tố đất hiếm…)
  • Hóa học, thuốc, dầu khí, nhựa, gốm....

 

THIẾT BỊ PHÂN TÍCH HUỲNH QUANG TIA X (XRF)
THIẾT BỊ PHÂN TÍCH HUỲNH QUANG TIA X (XRF)

Thiết bị phân tích huỳnh quang tia X (EDXRF) dòng XGT kết hợp khả năng phân tích nguyên tố nhanh, không phá hủy, với khả năng phân tích các điểm riêng lẻ có đường kính xuống tới 10µm. Chức năng quét mẫu tự động mang lại những hình ảnh chi tiết về sự phân bổ nguyên tố trên các vùng có kích thước 10cm x 10cm.

Ứng Dụng

Dòng XGT được sử dụng trong một dải rộng các ứng dụng, bao gồm:

  • Điện tử / Vật liệu
  • Dầu nhờn / Phân tích môi trường
  • Khoa học hình sự
  • Địa chất / Bảo tàng / Khảo cổ học
  • Dược phẩm / Sinh học / Xác định chất gây ô nhiễm
  • RoHS và ELV
  • Xác định khuyết tật / Đo độ dày đa lớp mạ / lớp phủ
  • Phân tích thành phần kim loại, kim loại quý (vàng, bạc...)
THIẾT BỊ PHÂN TÍCH RoHS/WEEE & ELV
THIẾT BỊ PHÂN TÍCH RoHS/WEEE & ELV

Bất kể mẫu của bạn là gì... chúng tôi sẽ cung cấp giải pháp cho WEEE/RoHS/ELV

WEEE/RoHS image

Theo chỉ thị của EU, việc kiểm tra các nguyên tố độc hại là điều bắt buộc bao gồm Pb, Cd, Hg, Cr (VI) và Br. Chỉ thị WEEE có hiệu lực ngày 13/8/2005 và chỉ thị RoHS có hiệu lực ngày 1/7/2006. End of Life Vehicle (ELV), là chỉ thị ngăn cấm sử dụng các chất độc hại trong các phương tiện giao thông có hiệu lực từ tháng 7, năm 2003.

  • RoHS - Hạn chế sử dụng các chất độc hại trong các sản phẩm điện và điện tử.
  • ELV - End of Life Vehicles

Huỳnh quang tia X là công nghệ cho phép phân tích nhanh và không phá hủy các loại nguyên liệu và linh kiện cho sản xuất. Thời gian phân tích được tính bằng phút để đạt độ nhạy dưới 100 ppm (0.01%)

Dòng XGT cung cấp giới hạn phát hiện ở mức 1 ppm (0.0001%). Đầu phóng tia X tiêu chuẩn 1.2 mm, cho phép phân tích các thành phần và các linh kiện dù là rất nhỏ một cách riêng rẽ.

THIẾT BỊ PHÂN TÍCH CÁCBON - LƯU HUỲNH (C/S)
THIẾT BỊ PHÂN TÍCH CÁCBON - LƯU HUỲNH (C/S)

Với công nghệ lò đốt tiên tiến từ HORIBA, đã tạo ra thiết bị phân tích cácbon và lưu huỳnh với hiệu năng tuyệt vời và các chức năng tối tân.

Các thiết bị phân tích C và S thuộc dòng EMIA-Expert, EMIA-Pro, EMIA-V2 series, EMIA-8100 là các sản phẩm được tạo ra từ các công nghệ và kinh nghiệm mà HORIBA tích lũy được trong nhiều năm qua trong lĩnh vực sản xuất các thiết bị phân tích nguyên tố. Có sẵn các model khác nhau cho phép khách hàng lựa chọn các hệ thống lò nung phù hợp nhất với mẫu và các ứng dụng.

Mỗi model được trang bị các chức năng độc đáo và siêu việt để hỗ trợ phân tích C và S nhanh chóng và chính xác.

 

THIẾT BỊ PHÂN TÍCH LƯU HUỲNH (S) TRONG XĂNG DẦU
THIẾT BỊ PHÂN TÍCH LƯU HUỲNH (S) TRONG XĂNG DẦU

Các thiết bị phân tích lưu huỳnh trong dầu series SLFA của HORIBA là sự lựa chọn hàng đầu của khách hàng  trong ngành dầu khí từ nhiều năm qua. Những cải tiến liên tục về khả năng vận hành và sử dụng cho phép đưa ra những dải thiết bị phù hợp với yêu cầu của khách hàng.

 

THIẾT BỊ PHÂN TÍCH OXY/NITƠ/HYDRO (O/N/H)
THIẾT BỊ PHÂN TÍCH OXY/NITƠ/HYDRO (O/N/H)

Dòng thiết bị EMGA series phù hợp với các ứng dụng khác nhau từ nghiên cứu và phát triển (R&D) cho tới phân tích quản lý chất lượng.

Được tích hợp hàng loạt các chức năng phân tích phong phú và công nghệ điều khiển độ ổn định tuyệt vời, thiết bị EMGA cho phép phân tích nhanh, độ chính xác cao đối với các loại mẫu thay đổi từ hàm lượng vết cho đến các mẫu có hàm lượng cao.