PHÂN TÍCH HẠT

HORIBA cung cấp thiết bị cho phân tích kích thước hạt, hình dạng hạt, thế zeta, và phân tích diện tích bề mặt. Đo lường kích thước hạt từ dưới 1 nanomet đến 30 mm, ở nồng độ khác nhau, từ 1 ppm đến 50 vol%. Các kỹ thuật phân tích được sử dụng bao gồm nhiễu xạ laser (Mie Thuyết), tán xạ ánh sáng động học, và phân tích hình ảnh động và tĩnh. (Đo cả hai kích thước hạt và thông tin hình dạng).

Thiết kế tiên tiến của HORIBA và phần mềm mạnh mẽ, kết hợp với các hệ thống xử lý mẫu linh hoạt có sẵn để đáp ứng mọi nhu cầu phân tích.  Có thể kết hợp các hệ thống bơm nhỏ cho vật liệu quý, tự động hóa, phát tán bột khô và kiểm soát nhiệt độ ... cung cấp các lựa chọn khác nhau cho người sử dụng.

Một thiết bị có thể phân tích 3 thông số đặc trưng của các hạt nano: kích thước hạt, thế zeta và trọng lượng phân tử

ViewSizer 3000 là bước đột phá trong phân tích sự dịch chuyển của các hạt cỡ nano.

HORIBA đã phát triển máy phân tích hạt nano ly tâm Partica CENTRIFUGE CN-300 để đo sự phân bố kích thước của các hạt nano bằng cách sử dụng phương pháp ly tâm quang của kỹ thuật sa lắng.