PHÂN TÍCH CỠ HẠT TÁN XẠ LASER
HORIBA cung cấp thiết bị cho phân tích kích thước hạt, hình dạng hạt, thế zeta, và phân tích diện tích bề mặt. Đo lường kích thước hạt từ dưới 1 nanomet đến 30 mm, ở nồng độ khác nhau, từ 1 ppm đến 50 vol%. Các kỹ thuật phân tích được sử dụng bao gồm nhiễu xạ laser (Mie Thuyết), tán xạ ánh sáng động học, và phân tích hình ảnh động và tĩnh. (Đo cả hai kích thước hạt và thông tin hình dạng).
Thiết kế tiên tiến của HORIBA và phần mềm mạnh mẽ, kết hợp với các hệ thống xử lý mẫu linh hoạt có sẵn để đáp ứng mọi nhu cầu phân tích. Có thể kết hợp các hệ thống bơm nhỏ cho vật liệu quý, tự động hóa, phát tán bột khô và kiểm soát nhiệt độ ... cung cấp các lựa chọn khác nhau cho người sử dụng.
Yêu cầu về sản phẩm/dịch vụ tại đây