PHÂN TÍCH LY TÂM SA LẮNG CỠ NANO
HORIBA đã phát triển máy phân tích hạt nano ly tâm Partica CENTRIFUGE CN-300 để đo sự phân bố kích thước của các hạt nano bằng cách sử dụng phương pháp ly tâm quang của kỹ thuật sa lắng.
Partica CENTRIFUGE CN-300
Dải đo từ 10 nm - 40 μm, Partica CENTRIFUGE CN-300 sử dụng lực ly tâm lên đến 30.000g, điều khiển nhiệt độ cho kết quả đo chính xác của nhiều loại mẫu.
Thiết bị được HORIBA phát triển dựa trên phản hồi của khách hàng cùng sự cải tiến dựa trên các công nghệ HORIBA hiện có và mới, cung cấp hoạt động an toàn và đáng tin cậy đồng thời dễ sử dụng.
Yêu cầu về sản phẩm/dịch vụ tại đây