PHỔ PHÂN CỰC ELLIP
Phân tích phân cực Ellip là phương pháp quang học không phá hủy và không tiếp xúc dựa trên sự thay đổi về trạng thái phân cực ánh sáng khi phản chiếu gián tiếp vào mẫu màng mỏng. Phân tích phân cực ellip sử dụng phương pháp tiếp cận dựa trên mô hình để xác định độ dày màng, tính chất quang học...
Thông tin thu được từ phân tích phân cực ellip:
- Độ dày màng từ vài Angstroms tới 10 micromet
- Hằng số quang học (n,k)
- Tính chất vật liệu: thành phần hợp kim hợp chất, độ xốp, tinh thể, bất đẳng hướng, vùng cấm quang học
CÁC THIẾT BỊ ĐO TẠI CHỖ, ĐO NỐI TIẾP VÀ ĐO DIỆN TÍCH RỘNG
Các thiết bị phân tích phân cực ellip tại chỗ, nối tiếp và đo trên diện rộng của HORIBA được thiết kế để kiểm soát quy trình trong nghiên cứu và công nghiệp. Từ việc kiểm soát tại chỗ các màng mỏng đến lập bản đồ nhất quán trên diện rộng và phân tích tiên tiếp của các thiết bị linh hoạt, chúng tôi cung cấp nhiều giải pháp để quản lý chất lượng màng mỏng.
Yêu cầu về sản phẩm/dịch vụ tại đây