Công ty TNHH HORIBA Việt Nam trân trọng kính mời Quý Khách đến dự buổi hội thảo “Những đổi mới trong phân tích đặc điểm hạt và phân tích nguyên tố - Innovations in particle characterization and elemental measurements” được tổ chức tại Hà Nội.
Kính gửi Quý Khách hàng,
Công ty TNHH HORIBA Việt Nam trân trọng kính mời Quý Khách đến dự buổi hội thảo “Những đổi mới trong phân tích đặc điểm hạt và phân tích nguyên tố - Innovations in particle characterization and elemental measurements” được tổ chức vào:


Lô số 3 & 4, Tầng 16, Tòa nhà Detech Tower II, số 107 Nguyễn Phong Sắc, P. Dịch Vọng Hậu, Q. Cầu Giấy, Hà Nội
Tại buổi hội thảo, Ms. Chiya Nishimura
từ HORIBA Ltd (Nhật Bản) và Mr. Nguyễn Đăng Khoa
– Kỹ sư ứng dụng của Công ty TNHH HORIBA Việt Nam sẽ trình bày về những cải tiến mới nhất của HORIBA Scientific cho các tính năng nổi bật trong dòng sản phẩm phân tích hạt và dòng sản phẩm phân tích nguyên tố cũng như các ứng dụng mới:


- Kích thước hạt và nồng độ hạt với phương pháp theo dõi hạt nano và phương pháp lắng (Particle size & particle concentration with Multi-laser Nano Tracking analysis & Sedimentation method).
- Đo lường các nguyên tố nhẹ trên MicroXRF – XGT-9000 (đo đến nguyên tố Boron) (Measuring light element on Micro-XRF until Boron)
- Giảm lượng khí tiêu thụ trên dòng sản phẩm đo Oxy/Nito/Hydro (Reducing gas consumption with new model for Oxygen/Nitrogen/Hydrogen instrument)
- Và các ứng dụng trong ngành công nghiệp: Năng lượng, Pin, Khoa học sự sống – Sinh học, Bán dẫn…
Quý Khách quan tâm tới buổi hội thảo vui lòng đăng ký tham dự qua đường link: https://forms.gle/m7xtVpTNcBmC1xA46
hoặc liên hệ trực tiếp với chúng tôi:


Chúng tôi rất hân hạnh được đón tiếp Quý Khách.